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QNix 4000er Schichtdickenmessgeräte Fe, NFe & Dual
QNix 4000er Schichtdickenmessgeräte Fe, NFe & Dual
Die Schichtdickenmessgeräte der 4000er-Baureihe von QNix® bringen Ihnen präzise und schnelle Messergebnisse, sind einfach zu bedienen – und extrem robust.
Spezifikationen
- Zwei magnetische Messprinzipien:
– Fe: Magnetfeldänderung bzw. Hall Effekt siehe Fe*
– NFe: Wirbelstrom* (nur QNix® 4500) - Normen: DIN EN ISO 2808, ISO 2178, ASTM B 499, ASTM D 7091, ISO 2360 (Nur QNix® 4500)
- Einheitenumschaltung: µm/mil
- Messzeitabstand Einzelmessungen: 850 ms
- Messwertanzeige:
– von 0 – 999 in µm
– ab 1000 µm in mm - Anzeigeauflösung
– 1 µm im Bereich von 0 – 999 µm
– 0,01 mm im Bereich ab 1000 µm - Anzeige: Hintergrundbeleuchtetes LCD
- Betriebstemperaturbereich: 0 – 50°
- Zulässige Lagertemperatur: -10° C – 60° C
- Stromversorgung: 2 x Batterien 1,5 V (Typ AA Alkali)
- Abmessungen (LxBxH in mm): 100 x 60 x 27 (Gerät mit integrierter Sonde)
- Gewicht inkl. Batterien:
– Gerät mit integrierter Sonde: 105 g
– Gerät mit Kabelsonde: 147 g
* Messung von nicht ferro bzw. nicht ferrimagnetischen Beschichtungen auf ferromagnetischem Substrat, zum Beispiel: Messung auf Eisen oder Stahlsubstrat NFe* Messung von nicht ferro bzw. nicht ferrimagnetischen und nicht elektrisch leitfähigen Beschichtungen auf nicht ferro bzw. nicht ferrimagnetischem und elektrisch leitfähigem Substrat, zum Beispiel: Messung auf Aluminium –, Zink –, Kupfer oder Messing Substraten.
Alle Sonden sind als integrierte- und als Kabelversion (1 m) erhältlich.
| Kleinste Messfläche | Kleinster Krümmungsradius | Kleinste Dicke des Substrats |
|---|---|---|
| ∅ 25 mm | Konvex & konkav: 5 mm | 200 µm |
Spezifikationen QNix 4200 – Sonden
| Sonde | Messbereich | Substrat | Abweichung |
|---|---|---|---|
| QNix 4200 3 mm | 3000 µm | Fe | +/- (3% +- 2 µm) |
| QNix 4200 5 mm | 5000 µm | Fe | 0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) 2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm) |
Spezifikationen QNix 4500 – Sonden
| Sonde | Messbereich | Substrat | Abweichung |
|---|---|---|---|
| QNix 4500 3 mm | 3000 µm | Fe & NFe | +/- (3% +- 2 µm) |
| QNix 4500 5/3 mm | 5000 µm 3000 µm |
Fe NFe |
0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm) 2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm) |
Modellübersicht
- QNix 4200 (LD0410)
Universelles Messgerät für FE-Substrate ohne Messwertspeicher. Ergonomisch, hintergrundbeleuchtet, schnell und robust. - QNix 4500 (LD0411)
Universelles Messgerät für Fe- und NFe-Substrate. Einfacher Wechsel der Messverfahren (automatisch/manuell).
| Funktionen | QNix 4200 (LD0410) | QNix 4500 (LD0410) |
|---|---|---|
| Hintergrundbeleuchtetes LCD | ✓ | ✓ |
| Akustische Messbestätigung | ✓ | ✓ |
| Automatische Substratumschaltung | ✓ | ✓ |
| Manuelle Substratumschaltung | ✓ | ✓ |
| Einheitenumschaltung µm/mil | ✓ | ✓ |
| Nullpunktjustierung auf Referenzplatte | ✓ | ✓ |
| Messungen auf FE | ✓ | ✓ |
| Messungen auf NFe | ✓ |
Lieferumfang QNix 4200 & QNix 4500
- Handgerät mit integrierter Sonde oder mit Kabelsonde
- Fe-Referenzplatte oder Fe/NFe-Referenzplatte (QNix® 4500)
- 2 x 1,5 V Mignon Batterien (Typ AA Alkali)
- Prüfzertifikat
- Bedienungsanleitung
- Robuster Kunststoffkoffer für Transport und Aufbewahrung
Zubehör
- LD5420 Stahlnullplatte FE zum Einstellen / Prüfen eines Schichtdickenmessgerätes
- LD5424 Satz Stahl-Nullplatte FE und Aluminium-Nullplatte NF zum Einstellen / Prüfen eines Schichtdickenmessgerätes
- LD5425 Aluminium-Nullplatte NF zum Einstellen / Prüfen eines Schichtdickenmessgerätes
Zusätzliche Information
| Marke | TQC Sheen |
|---|---|
| Einsatz | Beschichtungsprüfung, Dickenprüfung |
| Branchen | !!! Lackierer Beschichter Druckereien, Schifffahrt |
| Substrate / Substanzen | Metalle, Aluminium, Stahl |
| Normen | ASTM B499, ASTM D7091, GOST R 51694, ISO 2178, ISO 2360, ISO 2808 |
